热噪声是由光电检测器内部的热运动引起的。根据热噪声产生的机制不同，可以分为热涨落噪声、热响应噪声和热传导噪声。热涨落噪声是由于光电检测器内部的载流子在温度变化下发生非平衡分布引起的，这种噪声与温度成正比。热响应噪声是由于光电检测器的感光材料在受光激发后产生的温度波动引起的，这种噪声与光功率成正比。热传导噪声是由于光电检测器的热传导过程引起的，这种噪声与光电检测器的结构和材料有关。

暗噪声是指在没有输入光信号时，光电检测器产生的背景噪声。暗噪声的主要来源包括载流子随机产生和复合过程、杂散光的散射等。暗噪声会限制光电检测器的灵敏度和信号-噪声比，因此在实际应用中需要采取措施来降低暗噪声的影响，如加入冷却装置、提高工作温度等。

散射噪声是指光信号在光电检测器内部发生散射引起的噪声。光信号在光电检测器内部的散射过程会导致信号衰减和扩散，从而降低光电检测器的接收灵敏度和分辨率。散射噪声的程度与光电检测器的结构、材料以及入射光的波长有关。为了减小散射噪声的影响，可以使用具有较低散射特性的材料，优化光电检测器的结构设计，或者通过滤波器来选择合适的光源。