光电检测器的噪声来源主要包括热噪声、暗电流噪声和光电二极管本身的噪声。

首先是热噪声。热噪声是由于电子在固体材料中的热运动引起的，它的强度与温度成正比。在光电检测器中，光信号被转换成电信号时，电子也会受到热噪声的干扰，从而引入额外的噪声。

其次是暗电流噪声。暗电流是指在没有光照射的情况下，光电二极管产生的电流。暗电流通常由热激发的载流子引起，与温度成正比。暗电流会引入额外的噪声，降低光电检测器的信噪比。

光电二极管本身也会产生噪声。光电二极管的噪声源于它本身的结构和工艺限制，例如空穴复合噪声和电阻噪声等。这些噪声会影响光电二极管的灵敏度和信号质量。

为了降低光电检测器的噪声，可以采取一些策略。首先是降低温度。通过降低光电检测器的工作温度，可以有效减少热噪声的干扰，提高信噪比。其次是优化材料和工艺。选择低噪声材料，并优化光电二极管的结构和工艺，可以减少光电二极管本身的噪声。另外，使用前置放大器或其他信号处理技术，可以提高信号的强度和质量，抑制噪声的影响。