MOS（金属-氧化物-半导体）噪声是指在MOS器件（如MOSFET）中产生的噪声。MOS噪声主要包括以下几种类型：

热噪声：热噪声是由于电子的随机热运动引起的。在MOS器件中，热噪声主要来自电阻和通道中的载流子热运动。热噪声的功率谱密度与电阻值、温度以及频率有关。

1/f噪声（亚音频噪声）：1/f噪声是一种低频噪声，其功率谱密度随频率的增加而下降。在MOS器件中，1/f噪声主要来自载流子的随机漂移和捕获-发射过程。

漏电流噪声：由于杂质、缺陷和表面态等原因，MOS器件中存在漏电流，这些漏电流会引起噪声。