晶振相位噪声是指晶体振荡器输出信号的相位随时间变化的波动。它是由于晶体内部结构和环境条件等因素造成的不确定性引起的。

晶振相位噪声在许多应用领域中是一个重要的考虑因素，特别是在高精度的时钟和通信系统中。相位噪声可以导致时钟信号的抖动和频率偏移，从而影响系统的性能和稳定性。

晶振相位噪声主要有两个来源：一是晶体本身的噪声；二是外部环境对晶体的影响。晶体的内部噪声源包括晶格缺陷、晶面形貌、材料纯度等因素。外部环境对晶体的影响包括温度变化、机械振动、电磁干扰等。

人们通常通过相位噪声密度来描述晶振相位噪声的强度。相位噪声密度是指单位频率范围内的相位噪声功率，常用单位为dBc/Hz。其中dBc表示相对于载波功率的相对衰减。相位噪声密度随着频率的增加而增加，这是因为高频噪声的功率密度较低，但占据的频带宽度较窄。

为了降低晶振相位噪声，人们采用了一系列的技术手段。其中包括优化晶体结构设计、提高材料纯度、降低温度变化对晶体的影响、增加环境屏蔽等。人们还可以通过外部电路进行相位噪声的滤波和抑制。